2025年1月31日，成都市楠菲微电子有限公司在国家知识产权局申请了一项新专利，名为“基于YOLOv5与Swin Transformer融合改进的芯片小目标缺陷检测方法及系统”。这一创新性技术的提出，旨在提升芯片小目标缺陷检测的快速性与准确性，为电子行业的质量控制提供了新的思路和方法。